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J-GLOBAL ID：200903037053341558

サンプル中のリガンドの分析方法およびサンプル中のリガンドを分析する装置

Inventor：
越智 啓郎

About 越智 啓郎

, 
伴 知晃

About 伴 知晃


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005158725
Publication number (International publication number)：2006337038
Application date： May. 31, 2005
Publication date： Dec. 14, 2006
Summary：
【課題】印加する外部振動の周波数を、追従周波数限界に達するまで幅広い帯域で変化させる必要があり、計測に時間がかかる問題がある。【解決手段】リガンド及びレセプター及びリガンドとレセプターの複合体の追従周波数限界より低周波数領域に現れるレセプター及びレセプターと結合したサンプル中のリガンド及びレセプターとリガンドの複合体の固有振動周波数による計測光の反射光の強度変化を用いるので、印加する外部振動の帯域が従来の追従周波数限界を求めるために印加した帯域より狭くなるので計測時間の短縮が図れる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
リガンドを含むサンプルと、前記リガンドと結合しうるレセプターがその片面上に固定され、その裏面に光学プリズムが配置された、表面プラズモン共鳴を起しうる金属薄膜と、計測光を照射する照射手段と、前記計測光の反射光を受光する受光手段と、前記レセプターと結合したリガンドを分析する分析手段とを準備し、前記サンプルと前記金属薄膜とを接触させて前記サンプル中の前記リガンドを前記レセプターに結合させ、前記照射手段により、前記金属薄膜の前記レセプターが固定された面と逆の面に、計測光を照射し、前記受光手段により、前記金属薄膜の面上で反射された前記計測光の反射光を受光し、前記分析手段により、前記反射光から、前記金属薄膜近傍の誘電率の変化により生じた表面プラズモン共鳴角の変化を検出する、サンプル中の前記リガンドの分析方法であって、前記レセプターが固定された領域に外部振動を印加する印加手段を準備し、前記照射手段により前記計測光を照射しながら、前記印加手段により、前記金属薄膜の前記レセプターが固定された面に外部振動を印加し、前記分析手段により、外部振動に対する表面プラズモン共鳴角の周波数特性を得、前記周波数特性に含まれる前記レセプター及び前記レセプターと結合したサンプル中のリガンド及び前記レセプターと前記リガンドの複合体の固有振動周波数から前記リガンドを分析することを特徴とした分析方法。
IPC (4)：
G01N 21/27 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/543 ,  G01N 33/566
FI (4)：
G01N21/27 C ,  G01N33/53 D ,  G01N33/543 595 ,  G01N33/566
F-Term (11)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC17 ,  2G059DD13 ,  2G059DD15 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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