プラント診断装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：紋田誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995127556
Publication number (International publication number)：1996304125
Application date： Apr. 28, 1995
Publication date： Nov. 22, 1996
Summary：

【要約】【構成】周波数解析部103は、データ入力部102により取込まれたデータを用い所定のサンプリング周期と所定のデータ数とからなる解析パラメータによってオンラインで周波数解析を行ってオンライン周波数解析データを出力する。比較処理部104は、オンライン周波数解析データと正常時周波数解析データとを比較して比較結果を出力し、判定部106は、比較結果からプラントの状態を判定して判定結果データを出力し、判定結果通知部107は、判定結果データを外部へ通知する。解析パラメータ指示部108は、判定結果データを取込み判定結果データに応じて周波数解析部103が解析する解析パラメータを設定変更する。【効果】プラントの状態に応じて解析パラメータを設定変更できる。

Claim (excerpt)：

プラントデータを取込むデータ入力部と、このデータ入力部により取込まれたデータを用い所定のサンプリング周期と所定のデータ数とからなる解析パラメータによってオンラインで周波数解析を行ってオンライン周波数解析データを出力する周波数解析部と、プラントが正常のときの周波数解析結果を正常時周波数解析データとして保存する正常時周波数特性データベースと、前記オンライン周波数解析データと前記正常時周波数解析データとを比較してプラントの状態を判定して判定結果データを出力する判定部と、この判定部による判定結果データを外部へ通知する判定結果通知部とを有するプラント診断装置において、前記判定部から前記判定結果データを取込み判定結果データに応じて前記周波数解析部が解析する解析パラメータを設定変更する解析パラメータ指示部を備えることを特徴とするプラント診断装置。

IPC (2)：

G01D 21/00 , G05B 23/02

FI (2)：

G01D 21/00 Q , G05B 23/02 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平3-261823
回転機器異常診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-250306 Applicant：株式会社日立製作所
特公平4-044932

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