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J-GLOBAL ID:200903037727013551

ストレス評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小池 晃 ,  田村 榮一 ,  伊賀 誠司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003387025
Publication number (International publication number):2005143420
Application date: Nov. 17, 2003
Publication date: Jun. 09, 2005
Summary:
【課題】 ストレスの程度を簡便に評価する新規なストレス評価方法を提供する。【解決手段】 生体から採取された細胞、例えば血中細胞におけるper1遺伝子やper2遺伝子といった時計関連遺伝子の発現レベルは、ストレスの有無により変化する。したがって、時計関連遺伝子の発現レベルを指標とすることで、ストレスの程度を簡便に評価することができる。【選択図】 図11
Claim (excerpt):
生体から採取された細胞中における時計関連遺伝子の発現レベルを測定する発現レベル測定工程と、 測定された発現レベルを指標としてストレス評価を行うストレス評価工程と を有することを特徴とするストレス評価方法。
IPC (3):
C12Q1/68 ,  A61B5/16 ,  G01N33/50
FI (4):
C12Q1/68 A ,  A61B5/16 300A ,  G01N33/50 P ,  C12N15/00 A
F-Term (23):
2G045CA25 ,  2G045CB01 ,  2G045CB17 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045FB03 ,  2G045FB05 ,  4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA11 ,  4B024HA11 ,  4B063QA01 ,  4B063QA20 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ94 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR62 ,  4B063QS25 ,  4C038PP03 ,  4C038PS00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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