レーザ測定システム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：大塚秀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003417468
Publication number (International publication number)：2005180925
Application date： Dec. 16, 2003
Publication date： Jul. 07, 2005
Summary：

【課題】被測定物を複数位置から測定することにより、前記被測定物の3次元形状を、より全体的に測定することが可能なレーザ測定システムを提供すること。【解決手段】レーザ測定装置101は、a位置及びb位置の各々において所定の基準位置T0又はT1を基準として、被測定物502の3次元形状を測定し、前記3次元形状の測定データをデータ処理コントローラ500に無線で送信する。データ処理コントローラ500は、レーザ測定装置101がa位置及びb位置で測定して得た被測定物502の部分的な3次元形状の測定データを合成することにより、被測定物502のより全体的な3次元形状を算出する。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

レーザ光を使用して被測定物の3次元形状を測定するレーザ測定システムにおいて、被測定物の3次元形状を測定する測定手段と、前記測定手段によって複数の位置で測定した前記被測定物の3次元形状に関する測定データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶した複数位置における測定データを合成することによって前記被測定物の3次元形状を算出する3次元形状算出手段とを備えて成ることを特徴とするレーザ測定システム。

IPC (2)：

G01B11/24 , G01B11/00

FI (2)：

G01B11/24 A , G01B11/00 B

F-Term (42)：

2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA19 , 2F065AA20 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC11 , 2F065CC13 , 2F065CC14 , 2F065DD11 , 2F065FF09 , 2F065FF13 , 2F065FF17 , 2F065FF28 , 2F065FF44 , 2F065FF65 , 2F065FF67 , 2F065GG06 , 2F065GG22 , 2F065GG23 , 2F065HH04 , 2F065JJ01 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ16 , 2F065JJ18 , 2F065LL00 , 2F065LL13 , 2F065LL17 , 2F065LL20 , 2F065LL22 , 2F065LL37 , 2F065MM16 , 2F065MM26 , 2F065MM28 , 2F065NN00 , 2F065PP03 , 2F065PP05 , 2F065PP11 , 2F065PP22 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

光計測システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-274123 Applicant：科学技術振興事業団
レーザ測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-388190 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (2)

レーザレーダを用いた三次元モデルの作成方法及び三次元スキャナシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-142330 Applicant：大永ドリーム株式会社
光波測距儀を用いた3次元形状測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-129990 Applicant：トピー工業株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

走査&追尾機能付きレーザ三次元計測装置

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