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J-GLOBAL ID：200903037747614977

ヘーズ値測定装置及び測定方法

Inventor：
須賀 長市

About 須賀 長市

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渡辺 洋二

About 渡辺 洋二

, 
村松 学

About 村松 学


Applicant, Patent owner：
スガ試験機株式会社

About スガ試験機株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000180029
Publication number (International publication number)：2001356092
Application date： Jun. 15, 2000
Publication date： Dec. 26, 2001
Summary：
【要約】【課題】 測定対象となる試料の様々な形態、表面性状に対応し、試料の測定したい面への横、縦、或いは斜め方向への位置の調整移動が容易で、前記測定したい面と、所定開口の面との一致を肉眼で確認出来るような手段と、前記積分球の汚れ、受光器の劣化などによる装置の精度を確認し、これを補正し、信頼性のある測定結果を確保できるヘーズ値の測定方法の提供。【解決手段】 (イ)装置内部のコリメータレンズ及び反射ミラーを配設した基板を、該基板の一隅に配設した回転軸を中心に90°回動可能に構成し、積分球開口前面に確認作業空間を設けた構成。(ロ)測定過程中に、ヘーズ値(H)、及び全光線透過率(Tt)の真値が値付けされたヘーズ標準板を測定し、全光線透過率と、拡散光透過率の補正係数を求め、これを試料測定の演算に用いるヘーズ値測定方法。
Claim (excerpt)：
プラスチック、ガラス、フィルムなどの透明性材料のヘーズ値測定に関するもので、光源(2)からの光を2光路に分け、それぞれ集光レンズ(3)(4)を介しピンホール(5)(6)に集光し、更に、コリメータレンズ(9)(10)で平行光束にし反射ミラー(11)(12)を介し積分球の所定開口(21)(22)に導き、一方の光路は、入口開口(21)に密着挿入した試料(26)に透過する光路であって、前記挿入された試料(26)の測定したい面の横、縦、或いは斜め方向への位置移動を容易にし、前記測定したい面と、入口開口の面との一致を確認出来るように、前記コリメータレンズ及び反射ミラーを配設した基板(13)が、該基板(13)の一隅に配設した回転軸(15)を中心に90°回動可能に構成し、入口開口(21)前面に確認作業空間を設けたことを特徴とするヘーズ値測定装置。
F-Term (14)：
2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059BB15 ,  2G059CC20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG00 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ16 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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