多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置及び測定方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：大川宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003136429
Publication number (International publication number)：2004340690
Application date： May. 14, 2003
Publication date： Dec. 02, 2004
Summary：

【課題】測定できる波長範囲が広く、且つキャリア・エンベロープ・オフセット周波数fceoを高いS/Nで求めることができる光周波数測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】多色モードロックレーザ光源(1)を用いているので、測定可能な波長範囲を広くすることができる。また、第1合波手段(4)で合波された他方の単色光波(光コム)と拡張された光波(光コム)とのヘテロダイン干渉ビートを検出する非f-2f自己参照型のため、スペクトルを拡張した後に非線形光学効果で高調波を発生する必要がなく、高いS/Nでfceoを求めることができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

基本波と該基本波の逓倍波とを含む複数の光波を発生する多色モードロックレーザ光源と、該多色モードロックレーザ光源から発生される該複数の光波を各単色光波に分離する波長分離素子と、該波長分離素子で分離された該各単色光波の一方の単色光波のスペクトルを他方の単色光波のスペクトルとオーバラップするまで拡張するスペクトル拡張手段と、該他方の単色光波と該拡張手段で拡張された光波とを合波する第1合波手段と、該第1合波手段で合波された該他方の単色光波と該拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第1検出器と、該波長分離素子で分離された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と被測定光波とを合波する第2合波手段と、該第2合波手段で合波された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と該被測定光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第2検出器と、を有し、該第1検出器で検出された干渉ビートからキャリア・エンベロープ・オフセット(CEO)周波数fceoを求め、該第2検出器で検出された干渉ビートからオフセット周波数δを求めて被測定光波の光周波数を測定することを特徴とする光周波数測定装置。

IPC (6)：

G01J9/04 , G02F1/37 , G02F2/02 , H01S3/00 , H01S3/06 , H01S3/098

FI (6)：

G01J9/04 , G02F1/37 , G02F2/02 , H01S3/00 F , H01S3/06 B , H01S3/098

F-Term (16)：

2K002AA04 , 2K002AB12 , 2K002BA02 , 2K002CA03 , 2K002CA04 , 2K002FA27 , 2K002HA20 , 5F072AB09 , 5F072AK06 , 5F072HH07 , 5F072JJ20 , 5F072KK15 , 5F072QQ02 , 5F072RR01 , 5F072SS02 , 5F072YY11

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

Optics Letters, 20030901, Vol.28 No.17, p.1516〜1518
2003年(平成15年)秋季第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集第3分冊, 20030830, p.985
Optics Letters, 20021201, Vol.27 No.23, p.2127〜2129

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