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J-GLOBAL ID：200903038071555839

脳機能計測方法及び装置

Inventor： 中川 匡弘
Applicant, Patent owner： 独立行政法人 科学技術振興機構
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002367327
Publication number (International publication number)：2004194924
Application date： Dec. 18, 2002
Publication date： Jul. 15, 2004
Summary：

【課題】従来よりも脳機能の平均認識率が高い脳機能計測方法を提供する。【解決手段】状況の変化に対応して被測定者の脳から複数種類の脳波信号を予め測定する。測定した複数の脳波信号とフラクタル次元解析法とに基づいて脳機能を定量的に判別するための脳機能判別用リファレンス信号を所定の条件下ごとにそれぞれ取得する。所定の状況下にある被測定者の脳から複数の脳波信号を測定する。実測ステップで得た複数の脳波信号とフラクタル次元解析法とを用いて脳機能計測用解析信号を取得する。最後に、脳機能計測用解析信号を脳機能判別用リファレンス信号を用いて所定の判別法により解析判別することにより被測定者の脳機能の状態を計測する。【選択図】 なし

Claim (excerpt)：

状況の変化に対応して被測定者の脳から複数種類の脳波信号を予め測定する事前測定ステップと、 測定した前記複数の脳波信号と所定の解析法とに基づいて脳機能を定量的に判別するための脳機能判別用リファレンス信号を状況の変化に対応してそれぞれ取得するリファレンス信号取得ステップと、 所定の状況下にある前記被測定者の脳から複数の脳波信号を測定する実測ステップと、 前記実測ステップで得た前記複数の脳波信号と前記所定の解析法とを用いて脳機能計測用解析信号を取得する脳機能計測用解析信号取得ステップと、 前記脳機能計測用解析信号を前記脳機能判別用リファレンス信号を用いて所定の判別法により解析判別することにより前記被測定者の脳機能の状態を計測する脳機能計測方法であって、 前記所定の解析法としてフラクタル次元解析法を用いることを特徴とする脳機能計測方法。

IPC (3)：

A61B5/0476 ,  A61B5/05 ,  A61B5/055

FI (3)：

A61B5/04 322 ,  A61B5/05 A ,  A61B5/05 380

F-Term (13)：

4C027AA03 ,  4C027AA10 ,  4C027BB00 ,  4C027CC00 ,  4C027GG15 ,  4C027KK03 ,  4C096AA20 ,  4C096AB41 ,  4C096AB50 ,  4C096AC01 ,  4C096AD14 ,  4C096DC22 ,  4C096DC33

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• フラクタル次元解析を用いた感情の定量化手法 -感性フラクタル次元解析法-