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J-GLOBAL ID：200903038172303695

分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート

Inventor：
木村 俊仁

About 木村 俊仁


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007248671
Publication number (International publication number)：2009079970
Application date： Sep. 26, 2007
Publication date： Apr. 16, 2009
Summary：
【課題】極めて高感度で分析光を検出可能な分子分析光検出装置を安価に構成する。【解決手段】被分析物質Aを含む試料Sと接触する試料接触面10aの微小な所定領域に、所定の励起光L0が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面10aの他の領域上と比較して被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材12を備えたサンプルプレート10と、励起光L0を、増強部材12が備えられた所定領域を含みその所定領域より大きい照射領域に照射する励起光照射光学系20と、増強場により増強された被分析物質から生じる光のゆらぎを検出する信号検出部30とから分子分析光検出装置を構成する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被分析物質を含む試料と接触する試料接触面の微小な所定領域に、所定の励起光が照射された場合に、該所定領域上において該試料接触面の他の領域上と比較して前記被分析物質から生じる光を増強させる増強場を生じさせる増強部材を備えたサンプルプレートを用意し、 前記所定の励起光を、前記試料接触面の前記所定領域を含む該所定領域より大きい照射領域に照射し、 前記所定の励起光の照射により生じた前記増強場により増強された前記被分析物質から生じる光のゆらぎを検出することを特徴とする分子分析光検出方法。
IPC (2)：
G01N 21/64 ,  G01N 21/65
FI (3)：
G01N21/64 G ,  G01N21/64 F ,  G01N21/65
F-Term (20)：
2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043FA07 ,  2G043GA07 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043HA01 ,  2G043HA08 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 特公表2001-502062号公報
  • エバネッセント照明を用いる分子蛍光解析方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-097879   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 顕微鏡装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-269331   Applicant：株式会社分子バイオホトニクス研究所
Cited by examiner (3)

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