Pat
J-GLOBAL ID:200903038586226579
繰返しパターンの検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊東 辰雄 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996052533
Publication number (International publication number):1997222311
Application date: Feb. 16, 1996
Publication date: Aug. 26, 1997
Summary:
【要約】【課題】 製造ライン上で移動しているTABテープを静止させることなく検査できる装置を提供する。【解決手段】 繰返しパターン中の各パターンが所定の観察領域に到達する毎にその旨の信号を出力する信号発生手段5,6と、この信号に同期して閃光を発生し、前記観察領域に順次到達する各パターンを瞬間的に照明する閃光発生手段7,9とを具備する。
Claim (excerpt):
繰返しパターン中の各パターンが所定の観察領域に到達する毎にその旨の信号を出力する信号発生手段と、この信号に同期して閃光を発生し、前記観察領域に順次到達する各パターンを瞬間的に照明する閃光発生手段とを具備することを特徴とする繰返しパターンの検査装置。
IPC (2):
FI (2):
G01B 11/24 G
, H01L 21/66 J
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (22)
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目視検査システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-188525
Applicant:谷電機工業株式会社
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テープキャリアの欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-104467
Applicant:日本インターコネクションシステムズ株式会社
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特開平4-095705
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ストロボスコープの光量補正機能を有する検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-298265
Applicant:肇産業株式会社
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特開昭63-075507
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精密部品の外観検査装置及びその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-057684
Applicant:株式会社アイ・アール・イー, 株式会社マイクロ・テクニカ
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特開平2-287773
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特表平1-503100
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特開昭52-065613
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特開昭63-204867
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特開昭63-075507
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特開昭62-279649
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特開昭61-019139
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