Pat

J-GLOBAL ID：200903038815630834

温度計の低温度校正装置

Inventor： 中野 享 ,  田村 收 ,  櫻井 弘久
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006072460
Publication number (International publication number)：2007248277
Application date： Mar. 16, 2006
Publication date： Sep. 27, 2007
Summary：

【課題】本発明は、ロングステム型白金抵抗温度計をアルゴンの三重点温度で産業界が求めている10mK(10ミリケルビン)以内の合成標準不確かさで効率的に校正する装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の温度計の低温度校正装置は、断熱容器内の空間に、基準温度計及び被校正温度計を収納する収納部を備えた比較校正ブロックを保持し、該比較校正ブロックが浸漬するように冷却用の液体窒素及び液体酸素の混合液体を供給し、該混合液体を撹拌する撹拌器を設けることを特徴としている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

断熱容器内の空間に、基準温度計及び被校正温度計を収納する収納部を備えた比較校正ブロックを保持し、該比較校正ブロックが浸漬するように冷却用の液体窒素及び液体酸素の混合液体を供給し、該混合液体を撹拌する撹拌器を設けることを特徴とする温度計の低温度校正装置。

IPC (1)：

G01K 15/00

FI (1)：

G01K15/00

F-Term (2)：

2F056XA01 ,  2F056XA07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特許第3465402号公報
  
• 超低温校正方法および超低温校正装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-108971   Applicant：株式会社テイオン
• 特許第2990276号公報