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J-GLOBAL ID:200903038971742847

微粒子標識を使用した分析物アッセイ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 社本 一夫 (外5名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997538227
Publication number (International publication number):2000510582
Application date: Apr. 17, 1997
Publication date: Aug. 15, 2000
Summary:
【要約】試料中の1つ以上の分析物の特異的な検出法。この方法は、試料中の1つ以上の任意の分析物を、散乱光の検出が可能な粒子と特異的に会合させる段階と、前記粒子から散乱光が生じ、かつ1個以上の該粒子から散乱した光を、電子増幅せずに500倍未満の倍率で肉眼検出し得る条件下で、該分析物と会合した任意の粒子に光を照射する段階とを含む。この方法はまた、このような任意の粒子によってそれらの条件下で散乱された光を、分析物の存在の目安として検出する段階をも含む。
Claim (excerpt):
試料中の1つ以上の分析物の特異的な検出法であって、 前記試料中の前記1つ以上の分析物に散乱光が検出可能な粒子を特異的に会合させる段階と、 前記粒子から散乱光が生じ、かつ1個以上の前記粒子から散乱した光を電子増幅せずに500倍未満の倍率で肉眼検出し得る条件下で、前記分析物と会合した前記粒子に光を照射する段階と、 前記条件下で前記粒子によって散乱された前記光を、前記1つ以上の分析物の存在の目安として検出する段階とを含む方法。
IPC (6):
G01N 33/536 ,  G01N 21/47 ,  G01N 33/543 541 ,  G01N 33/553 ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68
FI (6):
G01N 33/536 E ,  G01N 21/47 Z ,  G01N 33/543 541 Z ,  G01N 33/553 ,  C12Q 1/68 A ,  C12N 15/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • Subject:光と波長と色 カテゴリー:学びの館

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