Pat
J-GLOBAL ID:200903038977260372
電子機器用操作部
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003295253
Publication number (International publication number):2005063301
Application date: Aug. 19, 2003
Publication date: Mar. 10, 2005
Summary:
【課題】製造工程負担を軽減することのできる電子機器用操作部を提供する。【解決手段】付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージ1が配置される電子機器用操作部において、上記制御部が、個々の歪ゲージ特性値を応力データとして時分割して測定する手段を有する。又は、各々の歪ゲージ特性値を独立して測定する手段、及びかかる測定値変化量を把握する手段を有し、当該測定値変化量は、応力を付与しない状態の歪ゲージ特性値と、応力付与後の歪ゲージ特性値との差により求められ、当該測定値変化量を応力データとして電子機器に供給する手段を有する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージが配置される電子機器用操作部において、
上記制御部が、個々の歪ゲージ特性値を応力データとして時分割して測定する手段を有することを特徴とする電子機器用操作部。
IPC (4):
G06F3/033
, G01L1/22
, G01L5/16
, G06F3/02
FI (4):
G06F3/033 330B
, G01L1/22 Z
, G01L5/16
, G06F3/02 E
F-Term (10):
2F049BA13
, 2F049CA11
, 2F051AA21
, 2F051AB09
, 2F051AC01
, 2F051CA01
, 2F051DA02
, 5B087BC02
, 5B087BC33
, 5B087CC45
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (2)
-
接触センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-063765
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
荷重センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-086185
Applicant:松下電器産業株式会社
Return to Previous Page