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J-GLOBAL ID：200903039080430425

レーザ顕微鏡

Inventor： 箱崎 博之
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 井上 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997354082
Publication number (International publication number)：1999174336
Application date： Dec. 09, 1997
Publication date： Jul. 02, 1999
Summary：

【要約】【課題】 多重励起時の透過像観察において、観察画像内のノイズを少なくすること。【解決手段】 蛍光観察を行う際には、レーザ光源1からの複数の励起光をスキャナ5、対物レンズ3等を介して試料面4にスポット状に入射させて試料面4上でスキャンする。そして、逆行してきた蛍光を第1〜第3検出器6、14、15で検出している。この際、試料面4を透過する透過光を透過光検出器9で検出し、コンピュータ80を用いて透過像を作成する。レーザ光源1からのKrArレーザ光のうち、安定性の高い488nmを含む複数波長で透過光を観察する時には、バンドパスフィルタ41を透過光の光路上の動作位置に配置して、複数の励起光のうち488nmの光だけが透過光検出器9に到達するようにする。

Claim (excerpt)：

互いに波長が異なる複数のレーザ光を発生する光源と、前記光源からの前記複数のレーザ光を対物レンズを介して試料に供給する照明光学系と、前記複数のレーザ光の照射により前記試料から発する蛍光又は反射光を取得して試料像を得る観察系と、前記照明光学系によって照明された前記試料を透過したレーザ光を検出して前記試料像を得る透過光検出装置と、前記透過光検出装置に入射するレーザ光の波長を選択する波長選択装置とを備えることを特徴とするレーザ顕微鏡。

IPC (2)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/64

FI (2)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/64 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 走査型レーザ顕微鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-121510   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平2-028542