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J-GLOBAL ID：200903075913396575

走査型レーザ顕微鏡装置

Inventor： 佐々木 浩 ,  相方 隆
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995121510
Publication number (International publication number)：1996313812
Application date： May. 19, 1995
Publication date： Nov. 29, 1996
Summary：

【要約】【目的】光軸方向にずらした所望の2つの面の蛍光観察と透過観察を同時に行うことができる走査型レーザ顕微鏡装置を得ることにある。【構成】試料10からの蛍光を励起するため又は10からの反射光を得るための第1のレーザ光L1並びにL1および励起される蛍光のいずれとも異なる波長であって、かつ10を透過した透過光を得るための第2のレーザ光L2を発振するレーザ光源1、1 のレーザ光を10上に集光させる対物レンズ47、47と1 の間に配置され、L1,L2を走査するガルバノメータスキャナ43、蛍光又は反射光を検出するフォトマルチプライヤ58a,58b 、透過光を検出する光検出器14と、L1光路とL2光路を47に対して同軸に導くダイクロイックミラ33b 、一方のレーザ光路に設け、光路を通過するレーザ光の集光位置を他方のレーザ光の光路を通過するレーザ光の集光位置に対して任意に調節可能なビームエクスパンダ36a,36b を具備したもの。

Claim (excerpt)：

試料に照射して蛍光を励起するため又は前記試料からの反射光を得るための第1のレーザ光、並びに、この第1のレーザ光および励起される蛍光のいずれとも異なる波長であって、かつ前記試料を透過した透過光を得るための第2のレーザ光、を発振するレーザ光源と、このレーザ光源からの第1および第2のレーザ光を前記試料上に集光させる対物レンズと、この対物レンズと前記レーザ光源の間に配置され、前記第1および第2のレーザ光を走査するためのレーザ光走査手段と、前記蛍光又は前記反射光を検出する第1の光検出手段と、前記透過光を検出する第2の光検出手段と、前記第1のレーザ光の光路および前記第2のレーザ光の光路を前記対物レンズに対して同軸に導く第1の光学手段と、一方のレーザ光の光路に設けられ、その光路を通過するレーザ光の集光位置を他方のレーザ光の光路を通過するレーザ光の集光位置に対して任意に調節可能な第2の光学手段と、を有する走査型レーザ顕微鏡装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 共焦点光学系
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-297161   Applicant：オリンパス光学工業株式会社