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J-GLOBAL ID：200903039093231642

眼科装置

Inventor： 三橋 俊文 ,  新村 悟 ,  小林 克彦
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994197853
Publication number (International publication number)：1996038422
Application date： Jul. 31, 1994
Publication date： Feb. 13, 1996
Summary：

【要約】[目的] 本発明は眼科装置に係わり、特に、測定対象眼内の測定対象部分の断面画像信号を形成するための眼科装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、第1光源が可干渉距離の短い光を発生させ、測定光学系が、第1光源からの光束を略測定対象眼の瞳位置で集光させて測定対象部分を照射し、ビームスプリッターが、測定光学系の測定光路から参照光路を分離し、反射ミラーを含む参照光学系が参照光束を反射させ、干渉光学系が、測定反射光束と参照光学系で反射された参照反射光束とを合成し干渉させ、受光部が干渉光束を、測定対象部分と略共役な位置に配置された複数の受光エレメント部により分割して受光し、画像信号形成部が、反射ミラー部が移動した際の受光部の出力信号から、測定対象眼内の断面画像信号を形成する様になっている。

Claim (excerpt)：

可干渉距離の短い光を発生させるための第1光源と、この第1光源からの光束を略測定対象眼の瞳位置で集光させると共に、該測定対象眼内の測定対象部分の所定範囲を照射し、この測定対象部分で反射される測定反射光束を受け取るための測定光学系と、この測定光学系の測定光路から参照光路を分離するためのビームスプリッターと、この参照光路の光軸方向に移動可能とされ、参照光束を反射させるための反射ミラーを含む参照光学系と、前記測定反射光束と該参照光学系で反射された参照反射光束とを合成し干渉させるための干渉光学系と、この干渉光学系で干渉させられた干渉光束を、前記測定対象部分と略共役な位置に配置された複数の受光エレメント部により分割して受光するための受光部と、前記反射ミラー部が移動した際の該受光部の出力信号から、測定対象眼内の断面画像信号を形成するための画像信号形成部と、を有することを特徴とする眼科装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

• 特開平4-272742
  
• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-310568   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 眼底カメラ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-287000   Applicant：株式会社ニデック
• 特開昭62-286433
  
• 特開平1-204643