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J-GLOBAL ID：200903039204672589

半導体発光素子

Inventor： 大塚 康二 ,  室伏 仁
Applicant, Patent owner： サンケン電気株式会社
Agent (1)： 高野 則次
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994101787
Publication number (International publication number)：1995288338
Application date： Apr. 15, 1994
Publication date： Oct. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ダブルヘテロ構造の半導体発光素子の輝度及び効率を高める。【構成】 活性層4とこの一方及び他方の側に配置されたn型及びp型クラッド層とを備えたダブルヘテロ構造の半導体発光素子において、n型及びp型クラッドを、活性層4に隣接する第1のn型及びp型クラッド層3a、5aと、この第1のn型及びp型クラッド層3a、5aに隣接する第2のn型及びp型クラッド層3b、5bとで構成し、第1のn型及びp型クラッド層3a、5aのキャリア濃度を第2のn型及びp型クラッド層3b、5bのそれよりも低くすると共に、第1のn型及びp型クラッド層3a、5aの厚みをトンネル効果が発生しない0.015〜0.05μmとする。

Claim (excerpt)：

活性層と、この活性層の一方の側に配置されたn型クラッド層と、前記活性層の他方の側に配置されたp型クラッド層とを備えた半導体発光素子において、前記n型クラッド層と前記p型クラッド層との内の少なくとも一方が前記活性層に隣接する第1のクラッド層とこの第1のクラッド層に隣接する第2のクラッド層とを有し、前記第1のクラッド層は前記第2のクラッド層よりも低いキャリア濃度を有し且つ前記第2のクラッド層よりは薄いが量子力学的トンネル効果が生じる厚さよりは厚い厚さを有し且つ活性層と第2のクラッド層の間の電位障壁の高さが活性層と第1のクラッド層の間の電位障壁の高さよりも高いことを特徴とする半導体発光素子。

IPC (2)：

H01L 33/00 ,  H01S 3/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 半導体発光素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-077811   Applicant：松下電器産業株式会社
• 特開平3-276785
  
• 特開平3-270186