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J-GLOBAL ID：200903039405603615

クロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
山本 善丈

About 山本 善丈


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (2)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006136100
Publication number (International publication number)：2007309661
Application date： May. 16, 2006
Publication date： Nov. 29, 2007
Summary：
【課題】 複数のピークが近接するプロファイルスペクトルから、質量数を補正した正確なセントロイドスペクトルを得る。【解決手段】 質量分析装置によって得られるプロファイルスペクトルについて、近接のピークとの重なりが発生し、その重なり度合いが異なる複数のピークを有する試料を測定して 複数のピークについて重なり度合いと質量数のずれの関係から補正関数を作成し、プロファイルスペクトルをセントロイドスペクトルに変換する際にセントロイドピークを前記補正関数により補正する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
1度の質量走査で設定条件に基く質量範囲のプロファイルスペクトルを得る分析実行手段と、 前記プロファイルスペクトルからセントロイドスペクトルへ変換する変換手段と、 前記設定条件に合致する前記セントロイドスペクトルのピークのイオンをプリカーサイオンとするプリカーサイオン選択手段と、 前記プリカーサイオンについて前記分析実行手段により質量走査を行う質量分析装置において、 既知の質量数の試料及び近接のピークとの重なりが発生しその重なり度合いが異なる複数のピークを有する既知の試料を測定し、前記複数のピークについて重なり度合いと質量数のずれの関係から補正関数を作成する手段と プロファイルスペクトルをセントロイドスペクトルに変換する際に前記セントロイドピークを前記補正関数により補正する補正手段を有する ことを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (3)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/26
FI (5)：
G01N27/62 X ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 D ,  G01N30/72 C ,  H01J49/26
F-Term (12)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA13 ,  2G041GA04 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041GA20 ,  2G041HA01 ,  2G041LA10 ,  5C038HH28
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 米国特許6,498,340号
  • 米国特許7,009,174号
Cited by examiner (1)

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