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J-GLOBAL ID:200903039481961911
回路測定用端子およびその製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
山下 穣平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992056357
Publication number (International publication number):1993218156
Application date: Feb. 06, 1992
Publication date: Aug. 27, 1993
Summary:
【要約】【目的】 パッドが狭ピッチ、小サイズとなり、パッド数が増大した場合でも、回路測定用端子を確実に接触させる。端子どうしの接触/短絡を防ぐ。【構成】 基板21面の法線方向と一定角度の傾きをもって、該基板21面から成長された針状結晶23を回路測定用端子として用いる。
Claim (excerpt):
基板面の法線方向と一定角度の傾きをもって、該基板面から成長された針状結晶を用いたことを特徴とする回路測定用端子。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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回路測定用端子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-008373
Applicant:株式会社東芝, 電気化学工業株式会社
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特開平2-016404
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特開昭50-037350
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特表昭63-502786
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特開平3-209103
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