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J-GLOBAL ID：200903039519711779

ヘテロダイン検出によるミロー干渉計型鉛直断面画像測定装置

Inventor：
佐藤 学

About 佐藤 学

, 
丹野 直弘

About 丹野 直弘


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001007503
Publication number (International publication number)：2002214129
Application date： Jan. 16, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 位相変調機能を付加するとともに、二次元ヘテロダインビート信号検出器と併用することにより、生体などの鉛直断面画像の測定を行うことができるヘテロダイン検出によるミロー干渉計型鉛直断面画像測定装置を提供する。【解決手段】 ミロー干渉計型鉛直断面画像測定装置において、対物レンズ112と、ミラー113と、ハーフミラー114からなるミロー干渉計と、前記ハーフミラー114を駆動する圧電装置123と、ビート画像信号を検出する2次元ヘテロダインビート検出器105とを備え、サンプル141からの後方散乱光と前記ミラー113からの光波の干渉から周波数の2次元ヘテロダインビート信号を発生させる。
Claim (excerpt)：
(a)対物レンズと、ミラーと、ハーフミラーからなるミロー干渉計と、(b)前記ハーフミラーを駆動する圧電装置と、(c)ビート画像信号を検出する2次元ヘテロダインビート検出器とを備え、(d)サンプルからの後方散乱光と前記ミラーからの光波の干渉から周波数の2次元ヘテロダインビート信号を発生させることを特徴とするヘテロダイン検出によるミロー干渉計型鉛直断面画像測定装置。
IPC (3)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 ,  G01B 11/24
FI (3)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 E ,  G01B 11/24 D
F-Term (22)：
2F065AA52 ,  2F065CC16 ,  2F065FF00 ,  2F065FF51 ,  2F065GG01 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL57 ,  2F065NN00 ,  2F065QQ17 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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