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J-GLOBAL ID:200903039824815460

半導体素子の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 宮園 博一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004090042
Publication number (International publication number):2005277208
Application date: Mar. 25, 2004
Publication date: Oct. 06, 2005
Summary:
【課題】プロセスを複雑化させることなく、シリコン半導体の光閉じ込め効果を向上させることが可能な半導体素子の製造方法を提供する。【解決手段】この半導体素子の製造方法は、フッ化水素を含有する電解液に、銀を溶解させる工程と、銀が溶解された電解液に、n型単結晶シリコン基板1を接触させることにより、通電を行うことなく、n型単結晶シリコン基板1の表面に凹凸形状1aを形成する工程とを備えている。【選択図】図10
Claim (excerpt):
フッ化物を含有する電解液に、銀、銅、白金、銀化合物、銅化合物および白金化合物からなるグループより選択される少なくとも1つの金属材料を溶解させる工程と、 前記金属材料が溶解された電解液に、シリコン半導体を接触させることにより、通電を行うことなく、前記シリコン半導体の表面に凹凸形状を形成する工程とを備えた、半導体素子の製造方法。
IPC (2):
H01L21/308 ,  H01L31/04
FI (2):
H01L21/308 B ,  H01L31/04 A
F-Term (13):
5F043AA02 ,  5F043BB02 ,  5F043FF10 ,  5F043GG10 ,  5F051AA02 ,  5F051AA05 ,  5F051CB21 ,  5F051CB29 ,  5F051CB30 ,  5F051DA04 ,  5F051DA20 ,  5F051GA04 ,  5F051GA15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (2)

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