イオン検出およびN次元データのパラメータ推定

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：川口義雄 , 小野誠 , 渡邉千尋 , 金山賢教 , 大崎勝真 , 坪倉道明
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2009512324
Publication number (International publication number)：2009539067
Application date： May. 25, 2007
Publication date： Nov. 12, 2009
Summary：

LC/IMS/MS分析のための方法および装置は、試料からノイズの多い生データを取得することと、データをアーチファクト低減フィルタに畳み込むことと、保持時間次元、イオン移動度次元、および質量対電荷比次元において、畳み込まれたデータの1つまたは複数のイオンピークを特定することとを伴う。

Claim (excerpt)：

LC/IMS/MS分析の方法であって、試料から、それぞれの要素がイオンカウント強度を保持時間次元、イオン移動度次元、および質量対電荷比次元に関連付け、ノイズはイオンピークアーチファクトに関連付けられている三次元データ要素の集合を含むノイズの多い生データを取得することと、イオン移動度次元において、そのデータ要素の集合を縮退して、それぞれの要素が組み合わされたイオンカウント強度を保持時間次元および質量対電荷比次元に関連付ける縮退データ要素の集合を形成することと、縮退データ要素の集合を、二次元行列に関連付けられているアーチファクト低減フィルタに畳み込み、これにより低減されたピークアーチファクトを有する縮退データ要素の畳み込まれた集合を形成することと、保持時間次元および質量対電荷比次元において、縮退データ要素の畳み込まれた集合のイオンピークを特定することと、縮退データ要素の畳み込まれた集合の特定されたイオンピークに応じて、さらなる分析対象となるノイズの多い生データの1つまたは複数の部分を選択することと、ノイズの多い生データの選択された1つまたは複数の部分を、三次元行列に関連付けられているアーチファクト低減フィルタに畳み込むことと、イオン移動度次元において、生データのそれぞれの畳み込まれた部分について1つまたは複数のイオンピークを特定することとを含む、方法。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (1)：

G01N27/62 D

F-Term (4)：

2G041CA01 , 2G041CA02 , 2G041EA04 , 2G041MA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

飛行時間型質量分析装置および分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-119865 Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ
質量スペクトルを分析する方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-544625 Applicant：シファーゲンバイオシステムズ,インコーポレイテッド
予め選択されたイオン移動度の関数としてイオンを時間的に分離する方法及び装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-584367 Applicant：アドヴァンスト・リサーチ・アンド・テクノロジー・インスティチュート・インコーポレーテッド

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

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