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J-GLOBAL ID:200903095220491842
予め選択されたイオン移動度の関数としてイオンを時間的に分離する方法及び装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002584367
Publication number (International publication number):2004531858
Application date: Apr. 19, 2002
Publication date: Oct. 14, 2004
Summary:
イオン分離装置は予め選択されたイオン移動度の範囲を規定するイオンだけを分離する質量分析器に連結されたイオン出口を有する少なくとも第1のイオン移動度検出器に連結イオン源を含む。1つの実施例において、イオン移動度分析器はイオンのドリフト時間の関数として電子的に制御可能な入口及び出口のゲートが備えられ、それによって予め選択されたイオン移動度の範囲内の移動度を規定するイオンだけを通過させられるようにする。他の実施例において、予め選択されたイオンの移動度の範囲内の移動度を規定する複数種のイオンを、質量分析器に注入する前に収集するように、イオン移動度分析器と質量分析器との間にイオントラップが配置される。さらに他の実施例において、イオントラップの入口がイオンのドリフト時間の関数としてイオン移動度の動作に対して電子的に制御され、それによって予め選択されたイオンの移動度の範囲内の移動度を規定するイオンだけを内部に通過させられるようにする。質量分析器はフーリエ変換イオン・サイクロトロン共鳴質量分析器であるのが好ましく、形成されたイオン質量分析装置はさらにイオン細分、イオン質量フィルタリング、イオントラップ、電荷中性化及び/または質量反応の装置の種々の組合せを含むようにしてもよい。
Claim (excerpt):
イオン塊をイオン移動度の関数として時間的に分離することと、
上記イオン移動度の関数として時間的に分離された第1のイオン移動度の範囲をなすイオンの少なくともある部分をイオン質量の関数として時間的に分離することと、
の各ステップからなることを特徴とするイオンを時間的に分離する方法。
IPC (4):
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/26
, H01J49/38
FI (4):
H01J49/40
, G01N27/62 V
, H01J49/26
, H01J49/38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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イオンの移動度及びハイブリッド質量分析装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平11-502665
Applicant:アドヴァンスト・リサーチ・アンド・テクノロジー・インスティチュート
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イオン分離装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-512998
Applicant:アドヴァンスト・リサーチ・アンド・テクノロジー・インスティチュート
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