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J-GLOBAL ID:200903040102585639

放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997260043
Publication number (International publication number):1999089825
Application date: Sep. 25, 1997
Publication date: Apr. 06, 1999
Summary:
【要約】【課題】 照射位置検出のための予備測定が不要な放射線照射・検出装置およびそのような放射線照射・検出装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。【解決手段】 放射線検出素子アレイ24における放射線ビーム40の照射位置検出用に、放射線検出素子アレイの厚みの中心292に関し互いに反対側にそれぞれ放射線受光面250,270を有する偶数個の放射線検出素子242,244を設けるようにした。
Claim (excerpt):
照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射する放射線照射手段と、前記放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビームの厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検出素子が前記放射線ビームの幅の方向に複数個配列され前記放射線ビームの照射を受ける放射線検出素子アレイと、前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部に設けられ、前記放射線ビームの厚みの方向における前記放射線検出素子アレイの中心に関し半数ずつが互いに反対側にそれぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子と、前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号に基づいて、前記放射線検出素子アレイにおける前記放射線ビームの照射位置を示す照射位置信号を生じる照射位置検出手段と、を具備することを特徴とする放射線照射・検出装置。
IPC (2):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03
FI (3):
A61B 6/03 320 K ,  A61B 6/03 320 P ,  A61B 6/03 320 Y
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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