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J-GLOBAL ID：200903040106218029

散乱吸収体の内部情報の計測方法及び装置

Inventor：
土屋 裕

About 土屋 裕


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998314613
Publication number (International publication number)：2000146828
Application date： Nov. 05, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：
【要約】【課題】 高精度かつ高速での計測が可能な、MBL則に基づく散乱吸収体の内部情報の計測方法及び装置を提供する。【解決手段】 光源5から複数の所定波長のパルス光、または複数の所定周波数の変調光、を計測対象である散乱吸収体1に入射し、出力光を光検出器7で検出して、信号処理部8及び演算処理部9によって内部情報を演算・算出するように計測方法及び装置を構成して、光路長平均と分散、あるいはそれらに相当する物理量を利用する分光計測方法(MVS法)により、MBL則に基づく時間分解積分計測法(TIS法)及び位相変調計測法(PMS法)を用いて吸収係数差を算出することによって散乱吸収体1の内部情報を求めることによって、高精度かつ高速での計測が可能となる。
Claim (excerpt)：
2種類以上の所定波長のパルス光を散乱吸収体中に光入射位置から入射する光入射ステップと、前記散乱吸収体内部を伝播した前記2種類以上の所定波長の光を光検出位置で検出して光検出信号を取得する光検出ステップと、前記光検出信号に基づいて、検出光の強度の時間変化を示す波形データを取得する信号処理ステップと、前記波形データに基づいて、前記検出光を構成する複数光子の光路長平均と、分散とを演算する光路長平均及び分散演算ステップと、前記光路長平均、前記分散、及び前記2種類以上の所定波長における吸収係数差の間に成立する所定の関係に基づいて、前記所定波長における前記吸収係数差を算出する吸収係数差算出ステップと、を含むことを特徴とする、散乱吸収体の内部情報の計測方法。
IPC (2)：
G01N 21/17 ,  G01N 33/72
FI (2)：
G01N 21/17 625 ,  G01N 33/72 A
F-Term (26)：
2G045CB30 ,  2G045DA51 ,  2G045DB30 ,  2G045FA11 ,  2G045FA29 ,  2G045JA01 ,  2G059AA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059CC18 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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