Pat
J-GLOBAL ID:200903040794661640

反射防止フィルム、偏光板、および液晶表示装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  高松 猛 ,  濱田 百合子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005258100
Publication number (International publication number):2006106714
Application date: Sep. 06, 2005
Publication date: Apr. 20, 2006
Summary:
【課題】液晶表示装置等のディスプレイの視認性を向上するため、外光の映り込みを防止し、白呆け、画像の呆け、ギラツキ現象が無く、虹ムラを改良した反射防止フィルムを提供すること。【解決手段】透明樹脂からなる支持体1上に、支持体1の透明樹脂とハードコート層2Aの電離放射線硬化性樹脂とが混合した混合領域4と、電離放射線硬化性樹脂からなるハードコート層2Aと、最外層に位置し平均粒径が5〜200nmであり且つ屈折率が1.17〜1.40である中空シリカ微粒子を含有している低屈折率層3とを有し、表面粗さRa(中心線平均粗さ)が0.10μm以下である反射防止フィルム10とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
透明樹脂からなる支持体と、少なくとも一層の電離放射線硬化性樹脂からなるハードコート層と、最外層に位置する低屈折率層とをこの順で有する反射防止フィルムであって、 (i)該支持体と該ハードコート層の間に、該支持体の透明樹脂と該ハードコート層の電離放射線硬化性樹脂とが混合した混合領域を有し、 (ii)該反射防止フィルムの表面粗さRa(中心線平均粗さ)が0.10μm以下であり、そして (iii)該低屈折率層が、平均粒径が5〜200nmであり且つ屈折率が1.17〜1.40である中空シリカ微粒子を含有している、 ことを特徴とする反射防止フィルム。
IPC (5):
G02B 1/11 ,  G02B 1/10 ,  G02B 5/30 ,  B32B 27/00 ,  G02F 1/133
FI (5):
G02B1/10 A ,  G02B1/10 Z ,  G02B5/30 ,  B32B27/00 N ,  G02F1/1335
F-Term (67):
2H049BA02 ,  2H049BA42 ,  2H049BB33 ,  2H049BB63 ,  2H049BB65 ,  2H049BC05 ,  2H049BC09 ,  2H049BC22 ,  2H091FA08X ,  2H091FA37X ,  2H091FB13 ,  2H091GA16 ,  2H091HA06 ,  2H091LA16 ,  2K009AA02 ,  2K009AA15 ,  2K009BB28 ,  2K009CC09 ,  2K009CC42 ,  2K009DD02 ,  2K009DD05 ,  4F100AA20C ,  4F100AH06B ,  4F100AH06C ,  4F100AH08B ,  4F100AH08C ,  4F100AJ06A ,  4F100AK01B ,  4F100AK01D ,  4F100AK52B ,  4F100AK52C ,  4F100AR00C ,  4F100AT00A ,  4F100BA03 ,  4F100BA04 ,  4F100BA05 ,  4F100BA07 ,  4F100BA10A ,  4F100BA10C ,  4F100BA31D ,  4F100CA02 ,  4F100DD07C ,  4F100DE01B ,  4F100DE01C ,  4F100EH46 ,  4F100EH46B ,  4F100EH462 ,  4F100EJ08 ,  4F100EJ08B ,  4F100EJ082 ,  4F100EJ54 ,  4F100EJ86B ,  4F100EJ862 ,  4F100GB41 ,  4F100JB14B ,  4F100JB14D ,  4F100JD06B ,  4F100JK12B ,  4F100JK12D ,  4F100JN01 ,  4F100JN01A ,  4F100JN01B ,  4F100JN01D ,  4F100JN18 ,  4F100JN18B ,  4F100JN18C ,  4F100YY00C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
Show all
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page