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J-GLOBAL ID：200903040851290807

通流の分析方法および分析装置

Inventor：
シュテファン アルント

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クリスティアン ハイネン

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クラウス ライマン

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ボード ルック

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Applicant, Patent owner：
ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング

About ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング


Agent (1)： 矢野 敏雄 (外4名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001549085
Publication number (International publication number)：2003518630
Application date： Nov. 24, 2000
Publication date： Jun. 10, 2003
Summary：
【要約】とりわけ通流速度成分を3次元検出するため、または液体またはガス中の通流を3次元可視化するため、通流を分析および定量化するための方法およびこの方法を実施するのに適した装置が提案される。このために電磁波、とりわけ光が少なくとも1つの検知装置によって、2次元周波数選択性または周波数バンド選択性に記録された画像(40,41,42,43)の形態で検知され、そこから通流が検出される。この光は、検知空間(25)に含まれ、分析すべき通流を特徴付ける粒子(30,31,32,33,34,35)から少なくとも部分的に発するかまたはこれにより散乱される。照明装置がこのために時間的に連続し、少なくとも近似的に平行であり、空間的に連続して配置された少なくとも2つの光面(19,18,17,20,21,22)を、周波数または周波数スペクトルの異なる電磁化により形成し、この光面が検知空間(25)を少なくとも領域的にサンプリングする。
Claim (excerpt)：
検知空間(25)において通流速度成分を3次元検出するための、または液体中またはガス中の通流を3次元可視表示するための通流分析方法であって、 検知空間(25)に含まれ、通流を特徴付ける粒子(30,31,32,33,34,35)から少なくとも部分的に発する、または散乱される電磁波を検出する方法において、 時間的に連続して、少なくとも近似的に平行であり、空間的に連続して配置された少なくとも2つの光面(19,18,17,20,21,22)を、周波数の異なる、または周波数スペクトル鋸となる電磁波により形成し、 当該光面により検知空間(25)を少なくとも領域的にサンプリングする、ことを特徴とする分析方法。
IPC (3)：
G01P 5/20 ,  G01P 3/36 ,  G01P 13/00
FI (3)：
G01P 5/20 F ,  G01P 3/36 C ,  G01P 13/00 D
F-Term (3)：
2F034AA01 ,  2F034AB01 ,  2F034AC01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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