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J-GLOBAL ID:200903041008725431
マイクロ電子機械可変光学遅延線
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
三俣 弘文
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000341870
Publication number (International publication number):2001208988
Application date: Nov. 09, 2000
Publication date: Aug. 03, 2001
Summary:
【要約】【課題】 MEMSデバイスを用いた可変の光学遅延線を提供すること。【解決手段】 マイクロマシーンリニアラック上の反射機を入力ソースおよび/または出力点から離して配置し、入力光波信号を受領し、それを出力点に向ける。反射機と入力点と出力点との間の距離は可変で、それにより入力光波信号の選択的なパス遅延補償が可能となる。他の実施例においてはピボット駆動可能なMEMSミラーとミラーのピボット角を調整して、光学システムに必要とされる選択的なパス遅延補償を与える。
Claim (excerpt):
(A) 入力光波を受光し遅延線に入力する入力点(12a)と、(B) 前記遅延線から受光し出力パス遅延補償光波信号を出力する出力点(14a)と、(C) 入力光波信号を受光し、この受光した光波信号を前記出力点の方向に反射させる入力点から所定の距離にある反射機(16)を有するマイクロマシーンリニアラック(18)と、を有し、前記距離は、光学遅延線による所定のパス遅延補償に応じて可変であり、(D) 前記マイクロマシーンリニアラックに接続され、前記反射機と入力点との間の距離を所定のパス遅延補償に基づいて制御するよう選択的に変化するコントローラとを有することを特徴とするマイクロ電子機械可変光学遅延線。
IPC (2):
FI (2):
Patent cited by the Patent:
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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Proceedings of The Workshop on Micro Electrical Mechanical Systems Vol.Workshop 8, 1995, p.77-82
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