文字検査装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西川惠清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998100283
Publication number (International publication number)：1999283039
Application date： Mar. 26, 1998
Publication date： Oct. 15, 1999
Summary：

【要約】【課題】本来良品とすべき文字を不良品と誤判定することを防止する。【解決手段】専用演算処理部8は、教示画像と検査画像との各部の明るさの差を求め、明るさ差が所定の閾値を越えている部分を差画像として検出する。汎用演算処理部6が差画像に対して外接矩形を求めるとともに差画像の面積を求め、外接矩形の各辺の合計の長さと面積との比を求める。この比が所定の閾値よりも大きい場合に不良と判定し、大きくない場合に良と判定する。不良箇所に該当しない差画像では外接矩形の各辺の合計長さに比べて差画像の面積が比較的小さくなり、不良箇所に該当する差画像では上記合計長さに比べて差画像の面積が比較的大きくなる。よって、適当な閾値閾値よりも上記比の値が大きい差画像を不良箇所とし、その検査対象文字を不良品と判定する。その結果、不良箇所に該当しない差画像を不良箇所と誤判定することが防止できる。

Claim (excerpt)：

検査対象たる文字を撮像して得られた検査画像と良品の文字を撮像して得られた教示画像との差分から成る差画像を求める差分処理手段と、1乃至複数の各差画像についてそれぞれ外接矩形を求めるとともに外接矩形の各辺の長さの合計と差画像の面積との比を求める演算処理手段と、各差画像について求めた外接矩形の各辺の長さの合計と差画像の面積との比から検査対象の良否を判定する判定手段とを備えたことを特徴とする文字検査装置。

IPC (2)：

G06T 7/00 , B41J 29/46

FI (2)：

G06F 15/62 410 A , B41J 29/46 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (15)

印字検査装置及び画像パターンフィルタ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-326363 Applicant：日立エンジニアリング株式会社
特開平3-102579
特開平3-102579

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