散乱吸収体計測方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994086737
Publication number (International publication number)：1995049307
Application date： Apr. 25, 1994
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】高精度で散乱吸収体の内部情報を計測する。【構成】散乱と吸収の影響を受けながら散乱吸収体の内部を拡散伝搬した光を散乱吸収体の外部で測定して、この測定値を演算処理して、散乱吸収体の内部情報を計測する。このとき、散乱吸収体内部を拡散伝搬する光の振る舞いおよびその結果である信号つまり光検出信号が、散乱吸収体内部の散乱成分や吸収成分などの性質や濃度に依存することを利用して、複数の異なる所定波長の光に対して複数の異なる光入射位置-検出位置間距離で検出した3種類以上の検出信号(計測値)を演算処理して、2つの波長に対する散乱吸収体の吸収係数の比、特定吸収成分の濃度比などの内部情報を計測する。

Claim (excerpt)：

散乱吸収体に対して、散乱係数が等しいと見做せる複数の所定波長の光を入射し、複数の光入射位置-光検出位置間の距離に対応する検出位置で、散乱吸収体の内部を拡散伝搬した前記所定波長の光を検出して3種類以上の検出信号を取得し、前記所定波長の光がそれぞれ拡散伝搬して前記検出位置に到達するときの前記散乱吸収体内の拡散伝搬経路における散乱特性および吸収特性と前記検出信号との3種類以上の連立関係を利用して、前記検出信号を演算処理して散乱吸収体の内部情報を導出する、ことを特徴とする散乱吸収体計測方法。

IPC (3)：

G01N 21/47 , G01J 1/00 , G01N 21/27

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

光CT画像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-063055 Applicant：株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
光断層イメージング装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-062303 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
特開平4-054439

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Cited by examiner (19)

特開平2-290534
光CT画像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-063055 Applicant：株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
特開平2-163634

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