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J-GLOBAL ID：200903041517328093

分析検査装置における攪拌装置の制御装置

Inventor：
野村 賢治

About 野村 賢治


Applicant, Patent owner：
株式会社エイアンドティー

About 株式会社エイアンドティー


Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995304807
Publication number (International publication number)：1997145718
Application date： Nov. 22, 1995
Publication date： Jun. 06, 1997
Summary：
【要約】【課題】 分析条件に応じて攪拌装置の攪拌条件を自動的に最適に設定する。【解決手段】 検体の液量、試薬の種類、液量、希釈液の種類、液量、希釈倍率などの分析条件を可変設定される分析検査装置における攪拌装置の制御装置において、分析条件に適合する攪拌条件を分析条件に応じて記憶した攪拌条件パラメータ記憶部235と、分析条件に関する情報を入力し、当該分析条件に応じて攪拌条件パラメータ記憶部235より攪拌条件を読み出して分析条件に応じて攪拌装置の攪拌条件を自動設定する攪拌条件自動設定部237と、攪拌条件自動設定部237により設定された攪拌条件により攪拌装置15を駆動する駆動回路251を設ける。
Claim (excerpt)：
検体の液量、試薬の種類、液量、希釈液の種類、液量、希釈倍率などの分析条件を可変設定される分析検査装置における攪拌装置の制御装置において、前記分析条件に適合する攪拌条件を分析条件に応じて記憶した攪拌条件パラメータ記憶部と、分析条件に関する情報を入力し、当該分析条件に応じて前記攪拌条件パラメータ記憶部より攪拌条件を読み出して分析条件に応じて攪拌装置の攪拌条件を自動設定する攪拌条件自動設定部と、前記攪拌条件自動設定部により設定された攪拌条件により攪拌装置を駆動する駆動部と、を有していることを特徴とする分析検査装置における攪拌装置の制御装置。
IPC (3)：
G01N 35/02 ,  B01F 11/04 ,  B01F 15/00
FI (4)：
G01N 35/02 D ,  G01N 35/02 G ,  B01F 11/04 ,  B01F 15/00 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • 自動分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-249532   Applicant：株式会社日立製作所
  • 撹拌装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-042840   Applicant：株式会社東芝
  • 特開平4-043963

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