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J-GLOBAL ID：200903041809433831

3次元形状計測方法およびその装置

Inventor： 川崎 洋 ,  古川 亮
Applicant, Patent owner： 有限会社テクノドリーム二十一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002330582
Publication number (International publication number)：2003130621
Application date： Nov. 14, 2002
Publication date： May. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】簡易なシステム構成にて3次元形状を計測することを図る。【解決手段】本発明は、ラインレーザ光源(1-1a)に発光ダイオード(1-1b)をマーカーとして取り付けた装置(1-1)と、撮像装置(1-2)、および計算用コンピュータ(1-3)からなる3次元形状計測装置であり、計測の際には装置(1-1)を用いて計測対象物体(1-4)にラインレーザ光をあて、その照射ラインレーザ光(1-5)と発光ダイオードを同時に撮像装置(1-2)で撮影し、得られた画像データを用いて、三角測量の原理で計算用コンピュータ(1-3)にて3次元の形状を取得するものである。

Claim (excerpt)：

ラインレーザ光源(1-1a)に発光ダイオード(1-1b)をマーカーとして取り付けた装置(1-1)と、撮像装置(1-2)、および計算用コンピュータ(1-3)からなる3次元形状計測装置。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400

FI (3)：

G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400 M ,  G01B 11/24 K

F-Term (24)：

2F065AA19 ,  2F065AA53 ,  2F065BB29 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG16 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065NN11 ,  5B047AA07 ,  5B047AA11 ,  5B047BC12 ,  5B047CA17 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-146905   Applicant：三洋電機株式会社