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J-GLOBAL ID：200903041942551774

蛍光体の量子効率測定方法および測定装置

Inventor：
大久保 和明

About 大久保 和明


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 松田 正道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996314335
Publication number (International publication number)：1997292281
Application date： Nov. 26, 1996
Publication date： Nov. 11, 1997
Summary：
【要約】【課題】 励起放射や蛍光スペクトルの絶対量を絶対放射計などで測定しているため、蛍光体の量子効率の絶対量の精度よい測定が実現できない。【解決手段】単一波長の放射を、測定蛍光体3に入射させ、単一波長の放射の蛍光体面の反射成分と、励起された蛍光発光の全放射成分を、積分球1によって積分し、その分光エネルギー分布を積分球1の窓8に装着した測光器9で測定し、蛍光体3の代わりに、分光反射率標準10に、単一波長の放射を入射させ、その全反射成分を積分球1によって積分し、側光器9でその分光分布を測定し、蛍光体面に入射させた放射の波長における、蛍光体面での反射測定値と分光反射率標準10での反射測定値と分光反射標準10の波長に対する絶対反射率から、蛍光体3の吸収エネルギーと吸収した光量子量を算出し、蛍光体面で測定した蛍光発光スペクトルから、その光量子量を算出し、蛍光体3が吸収した光量子量と、蛍光発光の光量子量の比から、蛍光体3の量子効率を算出する。
Claim (excerpt)：
単一波長の放射を、測定しようとする蛍光体に入射させ、前記単一波長の放射の前記蛍光体面の反射成分と、前記単一放射によって励起された蛍光発光の全放射成分を、積分球によって積分し、その分光エネルギー分布を前記積分球の窓に装着した分光測光器で測定し、次に、前記蛍光体の代わりに、分光反射率標準に、前記単一波長の放射を入射させ、その全反射成分を前記積分球によって積分し、前記分光側光器でその分光分布を測定し、前記蛍光体面に入射させた放射の波長における、前記蛍光体面での反射測定値と前記分光反射率標準での反射測定値と前記分光反射標準の前記波長に対する絶対反射率から、前記蛍光体の吸収エネルギーと吸収した光量子量を算出し、次に前記蛍光体面で測定した蛍光発光スペクトルから、その光量子量を算出し、前記蛍光体が吸収した光量子量と、前記蛍光発光の光量子量の比から、前記蛍光体の量子効率を算出することを特徴とする蛍光体の量子効率測定方法。
IPC (2)：
G01J 3/443 ,  G01N 21/64
FI (2)：
G01J 3/443 ,  G01N 21/64 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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