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J-GLOBAL ID:200903042116647125
可変減衰装置
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山名 正彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001020786
Publication number (International publication number):2002227925
Application date: Jan. 29, 2001
Publication date: Aug. 14, 2002
Summary:
【要約】【課題】 建造物の応答制御に使用される可変減衰装置を提供する。【解決手段】 指令値にしたがって抵抗値を多段階に又は連続的に変えられる可変減衰装置である。前記指令値による抵抗値の可変制御の手段として、当該減衰装置の変位量を計測する変位計が設置され、前記変位計が計測した変位信号Xに基いて、演算装置が先ず微分演算により速度Vを計算して求め、定数ωを用いた次式、I=√{X2+(V/ω)2}により指標Iが求められる。前記指標Iに基いて指令値Cが算出され、抵抗値が制御される。
Claim (excerpt):
指令値にしたがって抵抗値を多段階に又は連続的に変えられる可変減衰装置であって、前記指令値による抵抗値の可変制御の手段として、当該減衰装置の変位量を計測する変位計が設置されており、前記変位計が計測した変位信号Xに基いて、演算装置が先ず微分演算により速度Vを計算して求め、定数ωを用いた次式、I=√{X2+(V/ω)2}により指標Iが求められ、前記指標Iに基いて指令値Cが算出され、抵抗値が制御されることを特徴とする、可変減衰装置。
IPC (3):
F16F 15/027
, F16F 9/50
, F16F 15/02
FI (4):
F16F 15/027
, F16F 9/50
, F16F 15/02 A
, F16F 15/02 C
F-Term (11):
3J048AA02
, 3J048AB08
, 3J048AC04
, 3J048BD08
, 3J048BE03
, 3J048CB22
, 3J048EA38
, 3J069AA50
, 3J069DD13
, 3J069EE04
, 3J069EE63
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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制振装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-365941
Applicant:株式会社ブリヂストン, 株式会社島津製作所
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特開平1-098726
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