Pat
J-GLOBAL ID:200903042459739041
空間的に光変調された顕微鏡法に関する装置及び方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
松永 宣行
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000518300
Publication number (International publication number):2001521205
Application date: Oct. 27, 1998
Publication date: Nov. 06, 2001
Summary:
【要約】サンプルに接触し及び/又は検出される、サンプルから出る光の制御に著しく有利な顕微鏡を提供すること【解決手段】 使用者の目、電荷結合デバイス又はビデオ・カメラ等のサンプル及び/又は光検出器と接触する光の特定の制御を有する顕微鏡に関連した装置と方法。この改良された制御には照明角度、光量及びサンプル及び/又は検出器に到達する光の位置を高度に且つ選択的に制御することが含まれる。この顕微鏡は、対物レンズの開口絞りの共役画像面及びサンプルの共役画像面の一方又は両者における顕微鏡の照明及び/又は検出光路における1個以上の空間的光変調器を含む
Claim (excerpt):
個々の光透過画素の照明列を有する空間的光変調器であって対物レンズの開口絞りの共役画像面にある顕微鏡の照明光路内に配置されて上流側の空間的光変調器となる空間的光変調器を含む、顕微鏡。
IPC (8):
G02B 21/06
, G01N 21/27
, G01N 21/64
, G02B 21/00
, G02B 21/10
, G02B 21/12
, G02B 21/16
, G02B 21/36
FI (8):
G02B 21/06
, G01N 21/27 E
, G01N 21/64 E
, G02B 21/00
, G02B 21/10
, G02B 21/12
, G02B 21/16
, G02B 21/36
F-Term (52):
2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA02
, 2G043GB03
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043HA11
, 2G043HA15
, 2G043JA02
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043LA05
, 2G059AA05
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE07
, 2G059FF03
, 2G059FF04
, 2G059GG06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ07
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ23
, 2G059JJ30
, 2G059KK02
, 2G059KK04
, 2G059KK07
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AA13
, 2H052AB06
, 2H052AB10
, 2H052AB25
, 2H052AC02
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AC06
, 2H052AC07
, 2H052AC08
, 2H052AC14
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AC28
, 2H052AD31
, 2H052AD35
, 2H052AF14
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
偏斜・暗視野検鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-023703
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
共焦点用光スキャナ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-015410
Applicant:横河電機株式会社
-
特開平3-134608
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