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J-GLOBAL ID：200903042519158868

質量分析用マイクロチップおよびこれを用いた質量分析装置

Inventor：
小西 郁夫

About 小西 郁夫

, 
西本 尚弘

About 西本 尚弘


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 鹿島 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003388355
Publication number (International publication number)：2005147957
Application date： Nov. 18, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Summary：
【課題】 微量試料での質量測定を可能にする質量分析用部品を提供する。【解決手段】 試料導入部12と、試料導入部に連通する流路上に形成され試料の一部を切り取る試料切取部20と、切り取った試料をそれぞれ異なる流路に送り出すための分岐流路22と、各分岐流路にそれぞれ設けられる分岐流路開閉バルブVCと、各分岐流路開閉バルブVCの下流にそれぞれ形成される試料貯蔵部24と、試料貯蔵部24に連通し、貯留された試料を取り出す取出流路28とを備えたマイクロチップ1を用いて、試料貯蔵部24に必要とする微量試料を分取した上で質量分析装置に送ることができるようにする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
質量分析のための試料を調製するための質量分析用マイクロチップであって、 試料導入部と、 試料導入部に連通する流路上に形成され、試料導入部から流れてくる試料の一部を順次切り取る試料切取部と、 複数の試料貯蔵部と、 試料切取部と各試料貯蔵部とを流路接続し、試料切取部で切り取られた試料の一部をそれぞれいずれかの試料貯蔵部に送るための分岐流路と、 分岐流路にそれぞれ設けられる分岐流路開閉バルブと、 試料貯蔵部に連通し、試料貯蔵部に貯留された試料を取り出す取出流路とを備えたことを特徴とする質量分析用マイクロチップ。
IPC (5)：
G01N27/62 ,  G01N31/20 ,  G01N37/00 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10
FI (6)：
G01N27/62 F ,  G01N27/62 X ,  G01N31/20 ,  G01N37/00 101 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10
F-Term (10)：
2G042AA01 ,  2G042CB03 ,  2G042HA03 ,  5C038EE02 ,  5C038EF03 ,  5C038EF04 ,  5C038EF12 ,  5C038GG07 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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