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J-GLOBAL ID：200903042527288380

凸状領域を用いた分析方法

Inventor： 末永 智一 ,  珠玖 仁 ,  内田 勇
Applicant, Patent owner： 持田製薬株式会社
Agent (1)： 田治米 登 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996103948
Publication number (International publication number)：1997269325
Application date： Mar. 30, 1996
Publication date： Oct. 14, 1997
Summary：

【要約】【課題】 基板の分析部上で分析対象物の定量分析又は定量分析を行うに当たり、基板の非分析部の影響を抑制し、分析対象物の高精度な分析を可能とする。また、簡素な装置構成で多試料同時分析あるいは多項目同時分析を可能とする。【解決手段】 基板1の分析部A上で、分析対象物と該分析対象物と直接的又は間接的に反応する反応物質3とを反応させ、この反応に由来して発生する信号を検出する分析方法において、少なくとも信号検出段階において、基板1に対向する対向部に信号発生関与部4x又は検出器を設け、基板の分析部Aと対向部との距離が、基板の非分析部Bと対向部に比して短くなるように、基板1及び対向部の少なくとも一方に凹凸を形成し、分析部Aでの反応に由来する信号が非分析部B上での反応に由来する信号に比して強い信号強度で検出されるようにする。

Claim (excerpt)：

基板の分析部上で、分析対象物と、該分析対象物と直接的又は間接的に反応する反応物質とを反応させ、この反応に由来して発生する信号を検出する分析方法であって、少なくとも信号検出段階において、基板に対向する位置としての対向部に、前記信号の発生に関与する信号発生関与部及び前記信号の検出器の少なくとも一方を設け、基板の分析部と対向部との距離が、基板の非分析部と対向部との距離に比して短くなるように、基板及び対向部の少なくとも一方に凹凸を形成し、基板の分析部上での前記反応に由来する信号が基板の非分析部上での反応に由来する信号に比して強い信号強度で検出されるようにしたことを特徴とする分析方法。

IPC (8)：

G01N 33/543 521 ,  G01N 33/543 515 ,  G01N 33/543 593 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 27/00 ,  G01N 27/327 ,  G01N 27/416 ,  G01N 37/00

FI (8)：

G01N 33/543 521 ,  G01N 33/543 515 A ,  G01N 33/543 593 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 27/00 D ,  G01N 37/00 A ,  G01N 27/30 357 ,  G01N 27/46 336 B

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 酵素電極の製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-193708   Applicant：日本電気株式会社
• 特開平4-132949
  

Cited by examiner (3)

• 酵素電極の製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-193708   Applicant：日本電気株式会社
• 特開平4-132949
  
• 特開平4-132949