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J-GLOBAL ID:200903043243565223
放射探知装置及びその調製方法
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
石田 敬 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1996511931
Publication number (International publication number):1998506989
Application date: Sep. 29, 1995
Publication date: Jul. 07, 1998
Summary:
【要約】本発明は、多数の結晶粒子から形成された広い禁止帯半導体、放射探知性、多結晶材料の連続フィルムを有する放射探知装置であって、前記粒子が相互に焼結されて単一の凝集性の連続フィルムを形成している放射探知装置を提供する。
Claim (excerpt):
多数の結晶粒子から形成された広い禁止帯半導体、放射探知性、多結晶材料の連続フィルムを有する放射探知装置であって、前記粒子が相互に焼結されて単一の凝集性の連続フィルムを形成している放射探知装置。
IPC (2):
FI (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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X線画像検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-201719
Applicant:フィリップスエレクトロニクスエヌベー
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X線定量装置およびX線定量方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-273316
Applicant:松下電器産業株式会社
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アンモニウムで分散させたシユウ酸塩沈殿物を用いて希土類酸化物セラミツクシンチレータを製造する方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-055816
Applicant:ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ
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特許第5072122号
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特許第5017989号
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