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J-GLOBAL ID：200903043248331085

組織形態の測定法

Inventor： ペレルマン,レブ・テイ ,  バツクマン,バデイム ,  フエルド,マイケル・エス ,  ゾニオス,ジヨージ ,  イツカン,アービング ,  マノハラン,ラマサミー
Applicant, Patent owner： マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
Agent (1)： 小田島 平吉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000515487
Publication number (International publication number)：2001519190
Application date： Oct. 09, 1998
Publication date： Oct. 23, 2001
Summary：

【要約】例えば組織層中の核のサイズを決定するために、組織層により散乱される光学的照射により物質の1以上の物理的特徴を測定するための装置。この装置は、例えば組織が正常かまたは前癌性であるかを決定するために、目的の組織領域から光を送達し、そして集めるファイバーオプティックデバイス(10、20、30)を含む。

Claim (excerpt)：

組織の層中の構造のサイズを測定する方法であって: 組織の層中の目的領域に照射を向け; 組織からの照射の集め; 収集した照射を検出し;そして 組織層内の構造のサイズを決定する、ことを含んで成る方法。

IPC (2)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/17 625

FI (3)：

A61B 10/00 E ,  A61B 10/00 T ,  G01N 21/17 625

F-Term (25)：

2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB09 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059CC18 ,  2G059DD01 ,  2G059DD03 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01 ,  2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

• 特開平2-052205
  
• 特開平2-052205
  
• 蛍光内視鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-016879   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平2-052205
  
• 特開平2-052205
  
• 特開昭59-105508
  
• 特開平2-251711
  
• 特開平2-251711
  
• 特開平2-052205