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J-GLOBAL ID:200903043468425323

研磨パッドおよび研磨装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999012162
Publication number (International publication number):2000216121
Application date: Jan. 20, 1999
Publication date: Aug. 04, 2000
Summary:
【要約】【課題】半導体ウェーハ上に形成された絶縁層または金属配線等の凹凸のある表面を研磨によって平滑化する平坦化で使用するための研磨パッドまたは研磨装置において、研磨層は研磨を行っていくと、研磨層の微細孔部分に、研磨屑やスラリー等が堆積し目詰まりを生じるため、研磨特性が安定していないと言う問題点が指摘されている。【解決手段】導電性微粒子を含有したシンタクチックフォームからなる研磨層を有する研磨パッド。
Claim (excerpt):
導電性微粒子を含有したシンタクチックフォームからなる研磨層を有する研磨パッド。
IPC (6):
H01L 21/304 622 ,  B24B 37/00 ,  B24D 3/00 350 ,  B24D 3/02 310 ,  B24D 3/28 ,  B24D 3/34
FI (6):
H01L 21/304 622 F ,  B24B 37/00 C ,  B24D 3/00 350 ,  B24D 3/02 310 D ,  B24D 3/28 ,  B24D 3/34 A
F-Term (16):
3C058AA07 ,  3C058AA09 ,  3C058DA12 ,  3C058DA17 ,  3C063AA10 ,  3C063AB02 ,  3C063AB05 ,  3C063BB02 ,  3C063BB07 ,  3C063BC01 ,  3C063BC03 ,  3C063BD05 ,  3C063BE06 ,  3C063BG07 ,  3C063EE10 ,  3C063FF01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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