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J-GLOBAL ID:200903043731365306

薄膜半導体装置とその製造方法並びに画像表示装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小野寺 洋二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003176095
Publication number (International publication number):2005012057
Application date: Jun. 20, 2003
Publication date: Jan. 13, 2005
Summary:
【課題】多結晶半導体膜で作製された薄膜トランジスタの結晶配向を制御して、CMOS薄膜トランジスタの高性能化、高信頼化を実現する。【解決手段】絶縁性基板3上に、主たる配向が異なる半導体薄膜を、N型薄膜トランジスタのチャネル領域4、P型薄膜トランジスタのチャネル領域5で最適な配向をとるように作り分ける。絶縁性基板上3に、主たる配向が異なる半導体薄膜を作り分け、ソース・ドレイン領域6の配向が、不純物活性化速度が最も大きくなる配向となるようにする。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
同一の絶縁性基板上に形成され、チャネル領域及びソース・ドレイン領域が半導体薄膜からなるN導電型薄膜トランジスタとP導電型薄膜トランジスタとで構成した相補型MOSの薄膜半導体装置であって、 前記チャネル領域の半導体薄膜膜面の主たる結晶面配向が、前記N導電型薄膜トランジスタと前記P導電型薄膜トランジスタとで異なることを特徴とする薄膜半導体装置。
IPC (4):
H01L29/786 ,  G02F1/1368 ,  H01L21/20 ,  H01L21/336
FI (9):
H01L29/78 620 ,  G02F1/1368 ,  H01L21/20 ,  H01L29/78 613A ,  H01L29/78 627G ,  H01L29/78 626C ,  H01L29/78 612B ,  H01L29/78 616L ,  H01L29/78 616S
F-Term (54):
2H092JA24 ,  2H092JA28 ,  2H092JA34 ,  2H092JA37 ,  2H092JA41 ,  2H092JA46 ,  2H092JA47 ,  2H092JB22 ,  2H092JB31 ,  2H092JB44 ,  2H092JB56 ,  2H092JB61 ,  2H092KA04 ,  2H092KA05 ,  2H092MA13 ,  2H092MA18 ,  2H092MA27 ,  2H092MA30 ,  2H092NA22 ,  2H092NA29 ,  2H092PA01 ,  2H092RA05 ,  5F052AA02 ,  5F052AA17 ,  5F052CA04 ,  5F052DA01 ,  5F052DA02 ,  5F052DB01 ,  5F052EA11 ,  5F052FA13 ,  5F052GA01 ,  5F052GA02 ,  5F052GB03 ,  5F052JA01 ,  5F052JA04 ,  5F110AA01 ,  5F110AA04 ,  5F110AA14 ,  5F110BB02 ,  5F110BB04 ,  5F110BB10 ,  5F110CC02 ,  5F110DD01 ,  5F110DD02 ,  5F110DD25 ,  5F110GG02 ,  5F110GG13 ,  5F110GG17 ,  5F110GG44 ,  5F110HJ23 ,  5F110NN78 ,  5F110PP01 ,  5F110PP03 ,  5F110PP36
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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