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J-GLOBAL ID：200903044256920134

電場に基づいた光散乱分光法を用いた方法およびシステム

Inventor： ヤング,チヤングエイ ,  ワツクス,アダム・ピー ,  ペレルマン,レブ・テイ ,  ダサリ,ラマチヤンドラ・アール ,  フエルド,マイケル・エス
Applicant, Patent owner： マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
Agent (1)： 小田島 平吉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001581098
Publication number (International publication number)：2003532112
Application date： Apr. 27, 2001
Publication date： Oct. 28, 2003
Summary：

【要約】本発明は電場に基づいた光散乱分光法のシステムおよび方法に関する。このシステムおよび方法は細胞の特性の大きさおよび分布を測定することにより組織の診断を行なう。電場に基づいた測定によって材料の内部における散乱体の相互作用および入射光の波面から得られる位相情報が与えられる。これらの測定によって組織の三次元画像が得られる。

Claim (excerpt)：

第1の波長をもつ第1のビームおよび第2の波長をもつ第2のビームをもつ空間的にコヒーレントな光で材料の興味のある区域を照射し、 可変経路長を有する光路に沿って第1の波長および第2の波長をもつ参照光を向かわせ、 照射した光に応答して該材料から散乱される光を検出し、また経路長を変化させながら参照光を検出し、 検出された散乱光および検出された参照光からのヘテロダイン信号を生成することを特徴とする材料の測定方法。

IPC (3)：

G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01N 21/27 B

F-Term (41)：

2F064AA00 ,  2F064BB00 ,  2F064EE01 ,  2F064FF02 ,  2F064FF06 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG20 ,  2F064GG22 ,  2F064GG24 ,  2F064GG44 ,  2F064HH01 ,  2F064HH06 ,  2F064JJ05 ,  2F064JJ06 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-319850   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 組織形態の測定法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-515487   Applicant：マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ