Pat
J-GLOBAL ID：200903044277392880
波長フィルタの測定装置及び測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997218661
Publication number (International publication number)：1999064158
Application date： Aug. 13, 1997
Publication date： Mar. 05, 1999
Summary：
【要約】【課題】 反射特性と透過特性を同時に測定可能な波長フィルタの測定装置及び測定方法を提供するものである。【解決手段】 波長フィルタ9が中間部に設けられた光導波路と、光導波路の一端側に設けられた波長可変光源1と、光導波路の他端側に設けられた第1パワーメータ3aとを有し、波長可変光源1と波長フィルタ9と間に方向性結合器2aが挿入され、方向性結合器2aの分岐側の第1の端部AAに第2パワーメータ3b、第2の端部BBに第3パワーメータ3cを備えた測定装置であって、さらに、第1、第2及び第3パワーメータ3a、3b、3cの各入力側に夫々順方向に第1、第2及び第3光アイソレータ4a、4b、4cを備えている。
Claim (excerpt)：
波長フィルタの反射・透過特性を測定する波長フィルタの測定装置において、前記波長フィルタが中間部に設けられた光導波路と、前記光導波路の一端側に設けられた波長可変光源と、前記光導波路の他端側に設けられた第1パワーメータと、前記波長可変光源と前記波長フィルタとの間に挿入され光学的に接続された方向性結合器と、前記方向性結合器の分岐側の第1の端部に設けられた第2パワーメータと、前記方向性結合器の分岐側の第2の端部に設けられた第3パワーメータと、前記第1、第2及び第3パワーメータの各入力側に夫々順方向に設けられた第1、第2及び第3光アイソレータと、を備えることを特徴とする波長フィルタの測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
-
特開平1-217241
-
光導波路型回折格子の作成方法および作成装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-087850
Applicant：住友電気工業株式会社
-
光コネクタはずれ検出装置を有する光デバイス
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-032145
Applicant：富士通株式会社
Show all
Return to Previous Page
