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J-GLOBAL ID：200903044441236185

粉体の誘電体の比誘電率の測定方法、それに用いる空洞共振器及びその適用装置

Inventor：
江畑 克史

About 江畑 克史


Applicant, Patent owner：
TDK株式会社

About TDK株式会社


Agent (2)： 内藤 照雄 ,  宮越 典明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004078519
Publication number (International publication number)：2005156523
Application date： Mar. 18, 2004
Publication date： Jun. 16, 2005
Summary：
【課題】 粉体の比誘電率を高い精度で測定することができる粉体の比誘電率の測定方法を提供する。【解決手段】 粉体と液状媒質との混合体の比誘電率を算出し、混合体18の比誘電率と液状媒質の比誘電率が等しいときの混合体18の比誘電率または液状媒質の比誘電率を粉体の比誘電率として算出する。これにより、数GHz以上の高周波帯域においても、高い精度で、粉体の比誘電率を測定することができる。 【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
粉体と液状媒質との混合体の比誘電率を算出し、前記混合体の比誘電率と前記液状媒質の比誘電率が等しいときの前記混合体の比誘電率または前記液状媒質の比誘電率を前記粉体の比誘電率として算出することを特徴とする粉体の比誘電率の測定方法。
IPC (2)：
G01R27/26 ,  G01N22/00
FI (3)：
G01R27/26 H ,  G01N22/00 J ,  G01N22/00 Y
F-Term (9)：
2G028AA01 ,  2G028BC03 ,  2G028BC04 ,  2G028BD03 ,  2G028CG09 ,  2G028CG13 ,  2G028CG14 ,  2G028DH15 ,  2G028EJ01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (8)
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