Pat
J-GLOBAL ID:200903044615923527

乱数発生回路を有する半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐野 静夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998120757
Publication number (International publication number):1999312078
Application date: Apr. 30, 1998
Publication date: Nov. 09, 1999
Summary:
【要約】【課題】 カウンタ構成の乱数発生回路を有する半導体装置であって、電源投入直後に乱数を使用する回路によって読み出される乱数の値が常に同一となることがないようにした半導体装置を提供する。【解決手段】 入力クロックに同期して所定系列の乱数を出力する乱数発生回路4を有する半導体装置において、乱数発生回路4については、電源投入後、初期化することなく、さらに、クロックが不安定な状態で、動作を開始させるようにする。
Claim (excerpt):
半導体集積回路を同期動作させるためのクロック信号を発生する発振回路と、前記半導体集積回路の論理状態を確定させるためのリセット信号を発生する初期化回路と、前記クロック信号に同期して所定系列の乱数を発生する乱数発生回路とを有する半導体装置であって、前記乱数発生回路は、前記リセット信号で初期化されることがないとともに、前記発振回路の動作が不安定な状態でも前記クロック信号が入力されるように構成されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (2):
G06F 7/58 ,  G06F 1/04 301
FI (2):
G06F 7/58 A ,  G06F 1/04 301 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • PNパターン発生回路
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-046702   Applicant:富士通株式会社
  • 特開昭58-101515

Return to Previous Page