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J-GLOBAL ID：200903044676679793
光学的分析装置用測定チップ及びその製造方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
平木 祐輔 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996323098
Publication number (International publication number)：1998160737
Application date： Dec. 03, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：
【要約】【解決手段】 官能基を表面に導入した金属コロイド粒子を、基板上に最密充填的に並べたことを特徴とする光学的分析装置用測定チップ、ならびに金属コロイド粒子を分散させた分散液と、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルジエトキシメチルシラン、3-(2-アミノエチルアミノプロピル)トリメトキシシラン及び3-(2-アミノエチルアミノプロピル)ジメトキシメチルシランからなる群から選ばれる少なくとも1種とを混合して、金属コロイド粒子の表面にアミノ基を導入し、得られたアミノ基導入金属コロイド粒子分散液を溶媒と混合して又は混合しないで基板上に塗布することを特徴とする光学的分析装置用測定チップの製造方法。【効果】 良好な感度を有する光学的分析装置用測定チップを、効率良く簡易に得ることができる。
Claim (excerpt)：
官能基を表面に導入した金属コロイド粒子を、基板上に最密充填的に並べたことを特徴とする、光学的分析装置用測定チップ。
IPC (4)：
G01N 33/553
, C12M 1/00
, C12Q 1/00
, G01N 33/543 595
G01N 33/553
, C12M 1/00 Z
, C12Q 1/00 Z
, G01N 33/543 595
