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J-GLOBAL ID：200903044690893633

検出装置

Inventor：
飯田 一浩

About 飯田 一浩


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 速水 進治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002238577
Publication number (International publication number)：2004077305
Application date： Aug. 19, 2002
Publication date： Mar. 11, 2004
Summary：
【課題】微細な構造の検出装置においても、流路中の試料中の成分を精度よく検出する技術を提供する。【解決手段】マイクロチップ10は、基板12に形成された分離用流路14a、検出用流路14b、回収用流路14c、および接続部21aおよび接続部21bを有する。接続部21aおよび接続部21bは、それぞれ光ファイバと接続され、接続部21aに接続された光ファイバから検出用流路14b中の試料に光が入光され、検出用流路14bの長軸方向に沿って試料を通過した光が接続部21bに接続された光ファイバから取り出される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料中の成分を光学的に検出するための検出装置であって、水の屈折率よりも屈折率の低い材料により構成された基板と、前記基板に形成された試料流路と、前記試料流路に設けられた検出領域中の試料に光を入光する入光部と、前記試料流路の長軸方向に沿って前記試料を通過した前記光を取り出す受光部と、を含むことを特徴とする検出装置。
IPC (6)：
G01N21/05 ,  G01N21/64 ,  G01N27/447 ,  G01N33/483 ,  G01N33/53 ,  G01N37/00
FI (9)：
G01N21/05 ,  G01N21/64 F ,  G01N33/483 C ,  G01N33/53 M ,  G01N37/00 102 ,  G01N27/26 315K ,  G01N27/26 325A ,  G01N27/26 301A ,  G01N27/26 331E
F-Term (30)：
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043GB03 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043HA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045FA11 ,  2G045HA14 ,  2G057AA04 ,  2G057AA14 ,  2G057AB03 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB06 ,  2G057BD04 ,  2G057CB03 ,  2G057DC06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
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