Pat
J-GLOBAL ID：200903044790887789
クロック整形装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
上柳 雅誉
, 藤綱 英吉
, 須澤 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004056184
Publication number (International publication number)：2005252355
Application date： Mar. 01, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：
【課題】 入力する基準信号の周波数異常を検知できるようにする。【解決手段】 クロック整形装置10は、基準信号Srと比較信号Sfの位相差に応じた位相差信号Sdを出力する位相比較部14と、位相差信号Sdに応じた制御電圧Vcを出力するループフィルタ16と、制御電圧Vcによって位相制御された比較信号Sfを生成する電圧制御型発振回路18と、前記位相比較部14が出力した前記位相差信号Sdを基準位相差信号と比較し、同期外れを検出する同期外れ検出部20と、前記ループフィルタ16が出力した制御電圧Vcを基準電圧と比較し、前記基準信号の周波数異常を検出する周波数異常検出部22と、前記同期外れ検出部20の出力した同期外れ検出信号Esと前記周波数異常検出部22の出力した周波数異常検出信号Efとのいずれかが入力したときに、異常発生信号を出力する異常信号出力部24と、を有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
基準信号と比較信号とが入力し、両者の位相差に応じた位相差信号を出力する位相比較部と、
前記位相比較部が出力した前記位相差信号に応じた制御電圧を出力するループフィルタと、
前記ループフィルタが出力した前記制御電圧によって位相制御された比較信号を生成して前記位相比較部に入力する電圧制御型発振回路と、
前記位相比較部が出力した前記位相差信号を基準位相差信号と比較し、前記比較信号の前記基準信号に対する同期外れを検出する同期外れ検出部と、
前記ループフィルタが出力した制御電圧を基準電圧と比較し、前記基準信号の周波数異常を検出する周波数異常検出部と、
前記同期外れ検出部の出力した同期外れ検出信号と前記周波数異常検出部の出力した周波数異常検出信号とのいずれかが入力したときに、異常発生信号を出力する異常信号出力部と、
を有することを特徴とするクロック整形装置。
IPC (2)：
FI (2)：
H03L7/08 B
, G06F1/04 302Z
5J106AA04
, 5J106BB01
, 5J106CC01
, 5J106CC24
, 5J106CC41
, 5J106EE10
, 5J106JJ09
, 5J106KK30
Cited by applicant (1)
-
半導体集積回路装置及びPLL周波数シンセサイザ
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平9-129873
Applicant：富士通株式会社, 富士通ヴィエルエスアイ株式会社
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