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J-GLOBAL ID：200903044814082183

遊技機検査装置

Inventor： 土谷 幸三郎
Applicant, Patent owner： 株式会社三和
Agent (1)： 坂口 嘉彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995154047
Publication number (International publication number)：1996323029
Application date： May. 30, 1995
Publication date： Dec. 10, 1996
Summary：

【要約】【目的】 遊技機が改造されているか否かを、短時間に、低コストで、且つ誰にでも判定できるような手段を提供する。【構成】 検査手段と、遊技機を制御する演算制御装置と、遊技機における遊技状態情報の出力手段とを備え、検査手段は遊技状態情報を入力する入力手段を有し、検査手段は、演算制御装置によって生成された暗号を用いて演算制御装置を認証し、入力手段から入力された遊技機における遊技状態情報と演算制御装置内の遊技状態情報とを比較し、認証が真であり、且つ両遊技状態情報が一致した時に、遊技機が改造されていないと判定する。

Claim (excerpt)：

検査手段と、遊技機を制御する演算制御装置と、遊技機における遊技状態情報の出力手段とを備え、検査手段は遊技状態情報を入力する入力手段を有し、検査手段は、演算制御装置によって生成された暗号を用いて演算制御装置を認証し、入力手段から入力された遊技機における遊技状態情報と演算制御装置内の遊技状態情報とを比較し、認証が真であり、且つ両遊技状態情報が一致した時に、遊技機が改造されていないと判定することを特徴とする遊技機検査装置。

IPC (2)：

A63F 7/02 334 ,  A63F 7/02 332

FI (2)：

A63F 7/02 334 ,  A63F 7/02 332 B

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 遊技機制御用マイクロコンピュータチップ及びその不正検出のための照合装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-131056   Applicant：株式会社エルイーテック

Cited by examiner (1)

• 遊技機制御用マイクロコンピュータチップ及びその不正検出のための照合装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-131056   Applicant：株式会社エルイーテック