Pat

J-GLOBAL ID：200903046032353954

画像処理方法およびその装置、ならびに画像処理用の制御プログラムの記録媒体

Inventor： 藤枝 紫朗
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 鈴木 由充
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997270395
Publication number (International publication number)：1999096372
Application date： Sep. 16, 1997
Publication date： Apr. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 対象物の向きの特定処理を簡単かつ精度良く実施する。【解決手段】 対象物を撮像して得られた画像上に所定大きさの計測領域Rを設定し、この計測領域Rにエッジ抽出用のマスクを順次走査する。着目画素がエッジと判断される毎に、そのエッジ方向におけるエッジの度合いが加算処理され、最終的にエッジ方向毎のエッジの度合いを示すエッジ方向ヒストグラムが作成される。このヒストグラム上で最大のピーク値が得られる角度Tmax が、対象物の向きとして特定される。

Claim (excerpt)：

対象物を撮像して得られた濃淡画像を用いてその対象物がいずれの方向を向いているかを計測するための方法であって、前記対象物の画像を含む所定の画像領域について、その領域に含まれるエッジの度合いをエッジ方向毎に示すヒストグラムを作成し、そのヒストグラムのパターンを用いて対象物の向きを特定することを特徴とする画像処理方法。

IPC (4)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/24 ,  G06T 9/20 ,  G06T 7/60

FI (5)：

G06F 15/62 400 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 A ,  G06F 15/70 335 Z ,  G06F 15/70 350 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-228382
  
• 傾き計測方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-012089   Applicant：株式会社東芝
• 傾き検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-094520   Applicant：松下電器産業株式会社
• 特開昭63-228382