Pat
J-GLOBAL ID:200903046106210778
異常陰影検出方法および装置並びにプログラム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
柳田 征史
, 佐久間 剛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003041341
Publication number (International publication number):2004248817
Application date: Feb. 19, 2003
Publication date: Sep. 09, 2004
Summary:
【課題】異常陰影検出装置における被写体画像中の異常陰影候補の検出性能を向上させる。【解決手段】複数種類の検出処理手段11〜14を備えた候補領域検出手段10が、被写体画像を表す画像データPに基づいて、各検出処理手段により候補領域を検出し、判定手段20が、各検出処理手段により検出された候補領域が悪性陰影であるか否かを、検出処理の種類毎にそれぞれ異なる判定処理手段21〜24により判定し、異常陰影候補検出手段30が、悪性陰影であると判定された候補領域のみを異常陰影候補Qjとして検出する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被写体画像を表す被写体画像データに基づいて、前記被写体画像中の異常陰影の候補領域を、複数種類の検出処理により検出し、
前記複数種類の検出処理により検出された前記候補領域が所望の異常陰影であるか否かを、前記検出処理の種類毎にそれぞれ異なる判定処理により判定し、
前記所望の異常陰影であると判定された前記候補領域のみを異常陰影候補として検出することを特徴とする異常陰影検出方法。
IPC (3):
A61B6/00
, G06T1/00
, G06T7/00
FI (3):
A61B6/00 350D
, G06T1/00 290A
, G06T7/00 250
F-Term (21):
4C093CA35
, 4C093DA06
, 4C093FD03
, 4C093FD09
, 4C093FD11
, 4C093FF16
, 4C093FF17
, 4C093FF19
, 4C093FF20
, 4C093FF21
, 5B057AA07
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5B057DC36
, 5L096AA06
, 5L096BA06
, 5L096FA06
, 5L096FA14
, 5L096JA11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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異常陰影候補検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-141308
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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画像診断支援システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-180673
Applicant:ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
-
異常陰影候補検出方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-230529
Applicant:富士写真フイルム株式会社
-
画像診断支援装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-307104
Applicant:コニカ株式会社
-
異常陰影候補検出処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-267215
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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